C-SAM是Scanning Acoustic Microscope的簡稱，由于超聲波是其主要的掃描模式，也被稱為C-Scan模式，所以簡稱C-SAM。用超聲波進行檢測在生產和科研中應用廣泛，下面來了解一下它的具體原理和應用。

1.產品原理

不同的物質對于發出的超聲波可以進行散射反射吸收和阻擋返回的超聲波的特性，由于物質的種類不同也有所區別。利用物體反射超聲波的特異性來判斷物體的種類是常用的檢測方法。相對于傳統的X，射線照射法通過超聲波掃描來檢測，可以探測到其無法探測到的封裝裂痕。

C-SAM是主要是利用頻率高于20千赫茲的超聲波來對樣品中的空隙等缺陷進行探測，主要應用于觀察組件內部的裂紋，分層，空洞等，屬于一種非破壞性的檢測方式，可以探測到材料，內部結構是典型的無損檢測模式可以在不破壞原材料的前提下對物料進行準確的檢測。

2.具體模式

利用脈沖回波判斷缺陷的深度，具體的方法分為三種：A-Scan、C-Scan、B-Scan。其中A-Scan是傳輸時間測量模式，C-Scan是表面及橫向截面掃描模式，B-Scan是縱向截面成像模式。

3.產品用途

這種檢測方式主要用于LED金屬板電子器件的無損檢測可以準確查找到材料內部的分層裂紋和空洞等等，通過圖像進行比對判斷內部的阻抗差異，確定缺陷的具體尺寸和方位。

4.注意事項

這種檢測方式雖然不會破壞材料的內部結構，但是需要對被檢測對象有一定的要求。需要說明的是，它可能對液體的樣品帶來一些損害，因為多聲波會通過液體進行傳輸。不是，它對于檢測樣品的表面和內部形態也有一定的要求，如果檢測對象的內部有很多氣泡或者表面比較粗糙，是無法獲得比較滿意的檢測效果的。

C-SAM是當前一種比較主流的無損檢測方式，已經在生產中得到了比較廣泛的應用，可以在保證樣品不受破壞的前提下提升檢測的準確度。